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        氮化鎵晶圓在劃切過(guò)程中如何避免崩邊
        發(fā)布時(shí)間:2024-10-30 點(diǎn)擊數(shù):1416

        9月,英飛凌宣布成功開(kāi)發(fā)出全球首款12英寸(300mm)功率氮化鎵(GaN)晶圓。


        12英寸晶圓與8英寸晶圓相比,每片能多生產(chǎn)2.3倍數(shù)量的芯片,技術(shù)和效率顯著提升。這一突破將極大地推動(dòng)氮化鎵功率半導(dǎo)體市場(chǎng)的發(fā)展。


        氮化鎵和硅的制造工藝非常相似,12英寸氮化鎵技術(shù)發(fā)展的一大優(yōu)勢(shì)是可以利用現(xiàn)有的12英寸硅晶圓制造設(shè)備。全面規(guī)模化量產(chǎn)12英寸氮化鎵生產(chǎn)將有助于氮化鎵在導(dǎo)通電阻水平上與硅的成本平價(jià),這意味著同類(lèi)硅和氮化鎵產(chǎn)品的成本持平。


        GaN最早被用于發(fā)光二極管,GaN材料制作的藍(lán)光、綠光LED以及激光二極管早已實(shí)現(xiàn)了產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn),日本和美國(guó)的三位科學(xué)家還因此獲得了2014年諾貝爾化學(xué)獎(jiǎng)。到目前為止,光電領(lǐng)域依然是GaN的傳統(tǒng)強(qiáng)項(xiàng)。


        據(jù)最新統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示,2023年全球GaN功率元件市場(chǎng)規(guī)模約2.71億美元,至2030年有望上升至43.76億美元,CAGR(復(fù)合年增長(zhǎng)率)高達(dá)49%。其中非消費(fèi)類(lèi)應(yīng)用比例預(yù)計(jì)會(huì)從2023年的23%上升至2030年的48%,汽車(chē)、數(shù)據(jù)中心和電機(jī)驅(qū)動(dòng)等場(chǎng)景為應(yīng)用核心。


        • 一、氮化鎵晶圓分類(lèi)

        氮化鎵晶圓分單晶襯底和外延片兩種,單晶襯底分無(wú)摻雜襯底和(硅/鎂)摻雜襯底。外延片主要有硅基氮化鎵外延片、碳化硅基外延片和藍(lán)寶石基氮化鎵外延片。


        1. 無(wú)摻雜氮化鎵襯底

        常用于高電子遷移率晶體管(HEMT)和激光二極管(LD)等器件。


        2. 摻雜氮化鎵襯底

        通過(guò)摻入特定元素(如硅、鎂)來(lái)調(diào)節(jié)材料的電學(xué)性質(zhì)。N型摻硅氮化鎵襯底用于制作高電子遷移率器件;P型摻鎂氮化鎵襯底用于制作LED。


        3. 硅基氮化鎵外延片

        硅材料成本低、晶圓尺寸大且技術(shù)成熟,易于實(shí)現(xiàn)大規(guī)模生產(chǎn),能夠利用現(xiàn)有的硅基半導(dǎo)體生產(chǎn)線(xiàn)進(jìn)行加工,從而降低生產(chǎn)成本。

        硅基氮化鎵外延片在中低壓和高頻應(yīng)用領(lǐng)域具有一定的優(yōu)勢(shì),在消費(fèi)電子領(lǐng)域的快充充電器中應(yīng)用廣泛。


        4. 碳化硅基氮化鎵外延片

        碳化硅襯底具有良好的熱導(dǎo)率和較高的擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度,與氮化鎵的晶格匹配度相對(duì)較高,能夠生長(zhǎng)出高質(zhì)量的氮化鎵外延層,因此制成的器件具有更高的性能和可靠性。

        碳化硅基氮化鎵外延片適用于高功率、高頻和高溫等極端工作環(huán)境,在射頻功率放大器、電動(dòng)汽車(chē)充電器等對(duì)性能要求較高的領(lǐng)域具有重要應(yīng)用。

        碳化硅襯底的制備難度大、成本高,目前主要以 4 英寸和 6 英寸晶圓為主,8 英寸還沒(méi)有大規(guī)模應(yīng)用,這限制了其在大規(guī)模生產(chǎn)中的應(yīng)用。


        5. 藍(lán)寶石基氮化鎵外延片

        藍(lán)寶石襯底具有良好的絕緣性、穩(wěn)定性和透光性,在氮化鎵基發(fā)光二極管(LED)的制造中應(yīng)用廣泛。通過(guò)在藍(lán)寶石襯底上生長(zhǎng)氮化鎵外延層,可以制備出高亮度、高效率的藍(lán)光和綠光 LED,是目前主流的 LED 生產(chǎn)技術(shù)之一。

        但藍(lán)寶石襯底的硬度高、脆性大,加工難度大,且其熱導(dǎo)率相對(duì)較低,不利于器件的散熱,在高功率應(yīng)用領(lǐng)域受到一定的限制。


        二、氮化鎵晶圓的機(jī)械性能特征

        1. 硬度高

        氮化鎵的硬度較高(稍遜于碳化硅),具有較好的機(jī)械強(qiáng)度和耐磨性,這對(duì)于晶圓的加工和制造過(guò)程以及器件的封裝都具有一定的優(yōu)勢(shì)。在晶圓劃切、芯片封裝等工藝過(guò)程中,較高的硬度可以減少晶圓的破損和缺陷,提高生產(chǎn)良率。


        2. 材質(zhì)脆

        高硬度的同時(shí)也使得氮化鎵材質(zhì)相對(duì)較脆,在加工和使用過(guò)程中需要注意避免受到過(guò)大的機(jī)械應(yīng)力,否則容易發(fā)生破裂或損壞。


        三、劃切過(guò)程中如何避免出現(xiàn)崩邊

        1、選擇精度高、穩(wěn)定性好的劃片機(jī)。

        先進(jìn)的劃片機(jī)能夠提供更精確的切割控制,減少機(jī)械振動(dòng)對(duì)晶圓的影響。定期維護(hù)和校準(zhǔn)設(shè)備,保證劃片機(jī)的各個(gè)部件處于良好的工作狀態(tài),及時(shí)更換磨損的部件,以確保切割過(guò)程的準(zhǔn)確性和一致性。


        2、調(diào)整切割速度。

        速度過(guò)快會(huì)導(dǎo)致應(yīng)力集中,引發(fā)崩邊。推薦采用分步切割法,減少一次性切割產(chǎn)生的應(yīng)力,降低背崩出現(xiàn)的概率。切割過(guò)程中,還應(yīng)注意冷卻液溫度和流速,減少崩邊的產(chǎn)生。


        3、在劃切之前,對(duì)晶圓進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量檢查。

        確保晶圓沒(méi)有內(nèi)部缺陷或裂紋。如果晶圓本身存在質(zhì)量問(wèn)題,劃切過(guò)程中更容易出現(xiàn)裂縫。或者對(duì)晶圓進(jìn)行退火預(yù)處理消除內(nèi)部應(yīng)力,提高晶圓穩(wěn)定性。


        4、保持工作環(huán)境穩(wěn)定的溫度和濕度。

        減少晶圓的變形和應(yīng)力,降低崩邊出現(xiàn)的風(fēng)險(xiǎn)。


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